惠普4278A电容计HP4278A

惠普4278A电容计HP4278A

4278A技术指标：
4278A测量参数 C-D，Q，ESR，G 
4278A测试信号 
4278A频率： 1kHz和1MHz±0.02% 
HP4278A信号电平： 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进 
HP4278A测量时间： 6.5ms/10ms/21ms(典型值） 
HP4278A测量范围 测量参数 1kHz 1MHz正常模式
1MHz*** 
4278A电缆长度补偿 0,1或2m 
Agilent 4278A比较器：对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试 
存储卡插槽 外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用
（存储卡可任选，参见下面的选件004）。 
4278A一般技术指标Agilent 4278A
测量速度:6.5ms/10ms/21ms 
测量参数:C-D,Q,ESR,G 
C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 
0.05%,0.0002(1MHz,21ms) 
Agilent 4278A详细资料：
HP4278A测量速度:6.5ms/10ms/21ms 
HP4278A测量参数:C-D,Q,ESR,G 
C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)

技术指标：
测量参数
C-D，Q，ESR，G
测试信号
频率：
1kHz和1MHz±0.02%
信号电平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz***
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
电缆长度补偿
0,1或2m

比较器：
HP4278A对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
HP4278A存储卡插槽
HP4278A外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选HP4278A参见下面的选件
gilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的***测试仪器，用于生
HP4278A产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电
HP4278A容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。 
HP4278A一般技术指标：
HP4278A工作温度/湿度
5°~45℃，在40℃时相对湿度为95%

电源
100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V 
Amax
尺寸
约426mm(宽）*177mm(高）*498mm(长）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)
重量：
约15kg(33磅，标准） 

***回收各类进口电子仪器仪表如：NI 、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷伦/是德）、Keithley（吉时利）、、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能达）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（爱德万）、FLUK(福禄克)、MARCONI（马克尼）、R/S（罗德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可罗马) 、Prodigit(博计) 、Extech(华仪)、JDSU(捷迪讯）、Ando（安腾）、Aeroflex（艾法斯）、STANFORD（斯坦福）、Lambda（电盛兰达）、YOKOGAWA（横河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（莱特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（阳光）、Prima（普锐马）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博伦）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝测）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（爱斯福）、GW INSTEK （固纬）

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